正航技术介绍发光二极管光学性能测试方法

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正航技术介绍发光二极管光学性能测试方法

发布时间:2015-06-30 14:45      浏览次数:
正航技术介绍发光二极管光学性能测试方法
 
1范围
本标准规定了在锁定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED吉普件)光学性能测试方法。
本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试,组件和功率器件的光学性能测试参照执'1T,本标准是一种推荐性的测试方法,只要达到同样的测量目的,也可采用其他的测试方法。
2规范性引用文件
下列文件中的条毒阳说过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是放日期的引用文件,其随后所有的修改且在(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注目期的引用文件,其最新版本运用于本标准e
GB/T5698…1985颜色术语
GB/T13962…1992光学仪器术语
GBrr 15651-1995半导体吉普件分立器件和集成电路第5部分z光电子器件(idt IECω747-5:
1992)CIE 127:1997 LED测量
3术语和定义
GBrrS698、GB厅13962、GBff1 5651所确立的及下列术语和l~义适用于本标准。
3.1LED器件LEDdevice
用于发射.色可见光、臼光的LED器件。
3.2LED哥哥件平均发光强度averaged LED intenslty
照射在离u到器件一定距离(d)处的光度探测器上的光通最φv与白光度探测器构成的烹体角Q的比筒。按公式(1)计算LED器件平均发光强度儿:
按公式(1)计算LED器件平均发光强度儿 
3.3
学强度角ø112 haIf-intensity angle
在发光强度分布图形中,发光强度等于最大强度一半所对应的角度,如图1所示。
在发光强度分布图形中,发光强度等于最大强度一半所对应的角度,如图1所示 
3.4光通量φ~lumino耐Oux
通过LED器件的正向电流为烧旦控彼时,LBD糖件光学窗口单位时间发射的光盘。单位为!m(流明)。
3.5峰值波长Âp peak wavelength
光谱分布曲线最大僚对应的波长(见图6)。
3.6光谱学宽度LU Spectral bandwidth at balf讪侃DSity I1刷刷
在E峰僚波长两侧光强度为最大值的一年时所对应的彼伏之整傻(见图6)。
3.7光谱分布P(À)Sp帆衍al创strlbution
在可见光波长范罔内,各个波长的光辐射分布情况。

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