微电子产品跌落试验机的理论结构设计

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微电子产品跌落试验机的理论结构设计

发布时间:2014-09-16 08:33      浏览次数:

微电子产品跌落试验机的理论结构设计

 总结

(1)本课题主要内容是微电子产品跌落试验机的理论结构设计,其中微电子产品冲击试验机主要实现的功能是测试微电子产品的抗冲击能力,而检测微电子产品抗冲击能力的参数主要是冲击加速度和应变率以及冲击次数。
(2)跌落试验的可重复性对于实验结果来说是相当关键,为了保证同一组试件或一个试件在反复跌落时受到相同的冲击载荷,正式试验开始之前先从相同高度多次跌落,测量输入加速度的幅值与脉冲时间,以保证其具有较好的可重复性。跌落试验采用控制脉冲的试验方法,即将跌落台升高到一定高度,沿着导轨滑下,与下面的刚性基础碰撞,产生特定的加速度脉冲。

 展望

伴随着人民生活质量的提高,便携式电子产品在人们的日常生活中使用越来越广泛,使用过程与运输途中电子产品受到碰撞和摔打是不可避免的,其抗冲击能力成为电子产品可靠性的一个检验指标,同时也成为设计过程中的重要考虑因素。为了检验电子产品抗冲击能力,需要进行多次连续冲击破坏试验,现阶段,国内外研制较多的是大负荷,样品自身结构尺寸较大的冲击试验机。电子产品具有体积小、质量轻的特点。所以设计出微电子冲击试验机能够进行微电子产品(如移动电话)冲击试验,并且从实验中获得载荷、加速度、应变等重复性良好动态力学参数,从而反映出微电子产品的抗冲击能力,掌握这些动态力学参数,对产品可靠性的设计有很大的帮助。

跌落试验机


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