要想准确的试验出微电子产品的抗摔能力,所设计出来的跌落试验机必须满足以

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要想准确的试验出微电子产品的抗摔能力,所设计出来的跌落试验机必须满足以

发布时间:2014-09-14 09:04      浏览次数:

  方案的确定

要想准确的试验出微电子产品的抗摔能力,所设计出来的跌落试验机必须满足以下几点要求:
(1)能够模拟出微电子产品真实跌落的情景,即能够实现微电子产品以任意姿态在指定高度自由落体,不过,根据相关的资料显示,抗摔能力最差的部分是微电子产品的腹部和背部,所以所设计出来的结构只要能够满足微电子产品以躺下的姿态自由落体即可。
(2)能够接住固定有微电子产品的跌落台,防止其反弹后二次撞击冲击台面。我们可以想象微电子产品真实跌落的场景,微电子产品真实跌落时反弹高度是很小的,虽然也会发生二次以及多次碰撞,但是其与第一次碰撞相比是可以忽略不计的,然而本文所设计出来的试验机的跌落台以及冲击平面都是延展性以及韧性相当高的钢材料,碰撞之后必定会发生很大的反弹,在这种情况之下,其反弹后的二次以及多次碰撞就不能够忽略,必须防止,所以本文设计的跌落试验机必须能够防止其反弹后二次撞击冲击台面。
(3)能够准确的测量出冲击加速度、应变率等具有重复性的参数以及冲击次数。评价一个微电子产品抗摔能力主要是看产品摔落时产生的加速度、应变率等重复性良好的参数以及抗摔击次数。
(4)跌落台与冲击平面碰撞时不能有过大的缓冲。如果有太大的缓冲会影响冲击加速度的大小,并且使得冲击次数偏大。
(5)另外本机所测试的微电子产品的尺寸不得超过150mm×150mm。、
根据以上的要求可以很易得知,方案一和方案二都不符合要求,方案一中的多次跌落机无法实现微电子产品在任意指定的高度跌落;方案二中带有缓冲器的跌落机无法避免跌落台二次撞击跌落平台,而且还带有缓冲器,这样可能导致测出的冲击加速度和应变率以及冲击次数这些参数不准确。但是方案一和方案二的原理可以进行借鉴,特别是方案二的结构可以加以改进,使得其满足以上五点要求。


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